Previous pageMeV 양성자 이온빔을 이용하여 금속 Au,Al 로부터 방출되는 이차전자 발생량을 측정하였다. 표적은 Good Fellow 사에서 제작한 clean 금속을 이용하였고, 진공은 2 x 10-6 torr 에서 빔전류, dose량, 이온빔 에너지에 따라 이차전자 발생량을 측정하였다. 이차전자 측정은 이차전자 측정에서 큰 오차를 줄 수 있는 tertiary 전자 및 stray 전자를 제거하기위해 적당한 bias 전압을 걸어 주는 Quotient 법을 사용하였고, 측정에 이용된 faraday cup 은 황동과 teflon을 이용하여 제작하였다. 또한 이차전자 발생량을 금속의 저지능을 이용하여 규명하였다.
한국물리학회 1998년도 추계학술대회, 10. 23 - 24, 전북대학교, 전주